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NECが深層学習アプリ強化、良品データの学習だけで不良品を検出

2018年5月9日(水)日川 佳三(IT Leaders編集部)

NECは2018年5月8日、ディープラーニング(深層学習)をデータ解析に応用した業務アプリケーションソフトの新版「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習V2.2」を発表、同日販売を開始した。2018年5月21日から順次出荷する。販売目標は、今後3年間で300システム。

 RAPID機械学習は、ディープラーニングをデータ解析に応用した業務アプリケーションソフトである。応用分野として、映像の監視や画像の分類に使える「画像解析版」と、人材仲介業や人事・採用業務に使える「マッチング版」の2つを用意している。

図1●OneClass分類アルゴリズムによる検品業務イメージ(出所:NEC)図1●OneClass分類アルゴリズムによる検品業務イメージ(出所:NEC)
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 画像解析版の強化点は、良品データだけで学習ができる「OneClass分類アルゴリズム」を導入したことである。製造品質が高くて不良品データを入手しにくい製造業においても、不良品を検出する検品業務にディープラーニングを適用できるようになった。

 従来、検品業務においては、良品の画像データだけでなく不良品の画像データも、1000件規模で事前に必要になっていた。ところが、製造精度が高い日本の工場などでは、不良品データを大量に収集することが困難なため、検品業務にディープラーニングを導入しにくいという課題があった。

 人材マッチング版の強化点は、数字情報を含むテキストデータのマッチング分析が可能になったことである。テキストデータのマッチング分析において、従来はテキストとして取り扱っていた数字情報を、本来の数字としての意味を保ったまま解析できるようになった。

 価格(税別)と出荷時期は、以下の通り。「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習V2.2画像解析版」は、375万円から。2018年6月4日に出荷する。「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習V2.2マッチング版」は、375万円から。2018年5月21日に出荷する。

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